дек 7
О полных диагностических тестах длины 3 относительно инверсных неисправностей на выходах элементов в тестопригодных схемах в одном базисе
Д.С. Романов (ВМК МГУ имени М.В.Ломоносова)
7 дек 2018 в 10:00
комната 220, корпус В
7 дек 2018 в 10:00
комната 220, корпус В
В докладе доказывается существовании конечного полного базиса, в котором для любой булевой функции можно построить реализующую ее схему из функциональных элементов, в которой любой набор инверсных поломок на выходах элементов обнаруживается, при этом полный диагностический тест имеет длину не более 3.