май22
Короткие тесты замыкания для контактных схем
К.А. Попков (ИПМ им. М.В.Келдыша)
22 май 2019 в 10:30
комната 220, корпус В
22 май 2019 в 10:30
комната 220, корпус В
Рассматривается задача реализации булевых функций двухполюсными контактными схемами, неизбыточными и допускающими короткие проверяющие или диагностические тесты относительно замыканий не более \(k\) контактов при заданном натуральном \(k\). Доказаны следующие утверждения: для почти любой булевой функции от \(n\) переменных минимальная длина проверяющего (диагностического) теста равна 2 (соответственно, не превосходит \(2k+2\)).