ИПМ им. М.В.Келдыша РАН
На главную страницу сервера ИПМ РАН Русская версия в кодировке Win-1251 English version
Семинары ИПМ РАН




Дорогие коллеги!
В связи с возникшей эпидемиологической обстановкой наш семинар прекращает работу на неопределенное время.
На ближайшее заседание был запланирован доклад Михаила Владимировича Весника. Пока сидим на карантине, Михаил Владимирович предлагает начать обмениваться мнениями. Все результаты опубликованы, оттиски есть, отвечать на вопросы Михаил Владимирович готов. Для связи есть e-mail vesnik@cplire.ru
М.В. Весник (ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН)

Эвристические формулы применяют для физической интерпретации численного расчета, а также в практических задачах для повышения быстродействия солвера, или когда строгое аналитическое или численное решение не может быть построено, например, из-за больших размеров рассеивателя или не соответствует реальной физической модели.

Эвристические подходы математически нестрогие и основаны на физических представлениях об исследуемых процессах. На этапе построения эвристические формулы нуждаются в верификации, т.е. в проверке при помощи строгого аналитического или численного решения. На этапе применения верификация уже не нужна.

Представлены результаты работ автора по построению эвристических решений задач дифракции электромагнитных волн, связанные с учетом особенностей формы двумерных и трехмерных идеально проводящих рассеивателей, таких как: возмущения вблизи кромки и дополнительного возмущения поля вблизи вершины, формы профиля кромки. Кроме того, представлены эвристические сингулярные дифракционные коэффициенты для полуплоскости с неидеальными граничными условиями, а также эвристическое решение задачи дифракции упругих волн во временной области.

Обсуждаются перспективы развития и применения представленных подходов. С точки зрения авторы, предложенные эвристические подходы имеют перспективу применения в таких актуальных задачах, как исследование целей с пониженной радиолокационной заметностью, распространение радиоволн в условиях городской застройки, дифракция на матрицах фотоприемников и т.п. В свою очередь, для развития эвристических подходов нужны численные решения задач дифракции на эталонных полубесконечных двумерных и трехмерных рассеивателях: кромках и плоских угловых секторах с различными граничными условиями и различными профилями кромок.