Головная страница ИПМ Библиотеки, издания  •  Поиск публикаций  English 
Публикация

№ 60, Москва, 2016 г.
Авторы: Попков К.А.
Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
Аннотация:
Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов: 1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем; 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем
Язык публикации: русский, страниц: 12
Направление исследований:
Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники
Полный текст: Сведения об авторах:
  • Попков Кирилл Андреевич,  ,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН