Головная страница ИПМ Библиотеки, издания  •  Поиск публикаций  English 
Публикация

Препринт ИПМ № 139, Москва, 2016 г.
Авторы: Попков К. А.
Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов
Аннотация:
Получены нетривиальные нижние оценки длин минимальных единичных проверяющих и диагностических тестов для схем из функциональных элементов в широких классах базисов при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, неисправность, единичный проверяющий тест, единичный диагностический тест
Язык публикации: русский, страниц: 20
Направление исследований:
Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники
Полный текст: Сведения об авторах:
  • Попков Кирилл Андреевич,  ,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН