Головная страница ИПМ Библиотеки, издания  •  Поиск публикаций  English 
Публикация

№ 74, Москва, 2015 г.
Авторы: Попков К.А.
О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем
Аннотация:
Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов в базисе {&,∨,¬}, реализующих булевы функции от n переменных и допускающих короткие единичные диагностические тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов. Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит двух.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, неисправность, единичный диагностический тест
Язык публикации: русский, страниц: 20
Направление исследований:
Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники
Полный текст: Сведения об авторах:
  • Попков Кирилл Андреевич,  ,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН