Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности
Аннотация:
В работе исследуются зависимость изображения поверхности, получаемого с помощью туннельного микроскопа, от величины радиуса закругления иглы. Предлагается алгоритм для восстановления рельефа поверхности с учетом конечных размеров конца иглы.
Ключевые слова:
Нанотехнологии, туннельная микроскопия, коррекция изображения поверхности с учетом радиуса закругления иглы
Язык публикации: русский,
страниц:12
Направление исследований:
Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники