Головная страница ИПМ Библиотеки, издания  •  Поиск публикаций  English 
Публикация

№ 41, Москва, 2007 г.
Авторы: Карташев В.А., Карташев В.В.
Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности
Аннотация:
В работе исследуются зависимость изображения поверхности, получаемого с помощью туннельного микроскопа, от величины радиуса закругления иглы. Предлагается алгоритм для восстановления рельефа поверхности с учетом конечных размеров конца иглы.
Ключевые слова:
Нанотехнологии, туннельная микроскопия, коррекция изображения поверхности с учетом радиуса закругления иглы
Язык публикации: русский, страниц: 12
Направление исследований:
Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники
Полный текст: Сведения об авторах:
  • Карташев Владимир Алексеевич,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН
  • Карташев В.В.