Головная страница ИПМ Библиотеки, издания  •  Поиск публикаций  English 
Публикация

№ 88, Москва, 2004 г.
Авторы: Бурухина Т.Ф., Карташев В.А.
Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси
Аннотация:
В работе исследуется зависимость смещения иглы туннельного микроскопа от наклона его оси. Эта зависимость должны учитываться на этапе проектирования и в процессе интерпретации измерений. Проведенные эксперименты подтверждают правильность выбранной модели для объяснения зависимости.
Ключевые слова:
сканирующий зондовый туннельный микроскоп, чувствительность к возмущениям
Язык публикации: русский, страниц: 25
Направление исследований:
Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники
Полный текст: Сведения об авторах:
  • Бурухина Т.Ф.
  • Карташев Владимир Алексеевич,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН