Головная страница ИПМ Библиотеки, издания  •  Поиск публикаций  English 
Публикация

№ 87, Москва, 2004 г.
Авторы: Бурухина Т.Ф., Карташев В.А.
Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа
Аннотация:
Исследуется влияние на положение иглы туннельного микроскопа нерезонансных колебаний в плоскости рабочего стола. Необходимость такого исследования обусловлена малым зазором (около 1 нанометра) между иглой и поверхностью в процессе сканирования. Показано, что наибольший вклад в ошибки положения иглы вносит прогиб конструкции под действием силы тяжести, который изменяется при раскачивании оси микроскопа. Этот эффект наиболее выражен в низкочастотном диапазоне колебаний. В этом диапазоне его вклад на порядок превосходит вклад поступательных колебаний, которые традиционно учитываются при расчетах влияния внешних возмущений.
Ключевые слова:
сканирующий зондовый туннельный микроскоп, малые колебания, чувствительность к возмущениям
Язык публикации: русский, страниц: 20
Направление исследований:
Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники
Полный текст: Сведения об авторах:
  • Бурухина Т.Ф.
  • Карташев Владимир Алексеевич,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН